本标准规定了电子数显测高仪的术语、定义、型式、基本参数、工作条件、要求、试验方法、检验方法、标志与包装等。适用于分辨力为0.1 µm、0.2 µm、0.5 µm和1 µm，量程不超过10,000 mm的电子数显测高仪。标准旨在确保测高仪在实际使用中的精度和可靠性，包括环境适应性和电子性能要求。为生产、检验和使用提供了详细的技术规范和指导。
| 标准状态： | 现行 |
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| 中国标准分类号（CCS） | J42 | 国际标准分类号（ICS） | 17.040.30 |
| 发布日期 | 2008-06-25 00:00:00 | 实施日期 | 2009-01-01 00:00:00 |
| 主管部门 | 中国机械工业联合会 | 归口部门 | 中国机械工业联合会 |
| 发布单位 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 |
| 备注 | 2009-01-01实施 |